簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "工業管理系".dept (精準) and ckeyword.raw="瑕疵辨識"


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    高速生產線瑕疵檢測之兩階段卷積神經網絡模型
    • /108/ 碩士
    • 研究生: 黃怡晶 指導教授: 王孔政
    • 高速生產的微型電子元件需要快速且準確的檢測方法,自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)常應用於此。然而,AOI易於產生檢測篩選不足且/或篩選過度的問題。本…
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    • 全文公開日期 2025/06/28 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)
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